Peter B. Hirsch

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Peter Bernhard Hirsch
Nacimiento 16 de enero de 1925
Berlin, Alemania
Residencia Reino Unido
Nacionalidad Flag of the United Kingdom.svg Reino Unido
Campo Ciencia de materiales
Instituciones Universidad de Oxford
Alma máter Universidad de Cambridge
Premios
destacados
Medalla Franklin J. Clamer (1970)
Medalla Hughes (1973)
Premio Wolf en Física (1983/4)
Medalla de Oro Lomonosov (2005)
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Sir Peter Bernhard Hirsch (Berlin, 16 de enero de 1925) es una figura británica en la ciencia de los materiales que ha hecho contribuciones fundamentales a la aplicación de la microscopía electrónica de transmisión para los metales.

Biografía[editar]

Asistió a la Escuela de Sloane, Chelsea y St Catharine's College, Cambridge. En 1946 se unió al departamento de cristalografía en los Laboratorios Cavendish a trabajar en pro de un trabajo de doctorado sobre el endurecimiento de los metales bajo Lawrence Bragg. Posteriormente llevó a cabo una importante labor, que todavía es citada, sobre la estructura del carbón.

A mediados de los años 1950 fue pionero en la aplicación de la microscopía electrónica de transmisión (TEM) para los metales, y desarrollado en detalle la teoría necesaria para interpretar esas imágenes. En 1965, con Howie, Whelan, Pashley y Nicholson, publicó el texto seminal Microscopía electrónica de cristales finos. Al año siguiente se trasladó a Oxford para ocupar la Presidencia Isaac Wolfson en Metalurgia, sucediendo a William Hume-Rothery. Ocupó este puesto hasta su jubilación en 1992, la creación del Departamento de Metalurgia (actualmente el Departamento de Materiales) en un centro de fama mundial.

Entre muchos otros honores, fue galardonado con el 1983 Premio de la Fundación Wolf en la física. Fue elegido para la Royal Society en 1963, y nombrado caballero en 1975. Es miembro (fellow) del college Saint Edmund Hall de Oxford.

Fue galardonado en 1973 con la medalla Hughes, concedida por la Royal Society «por sus distinguidas contribuciones al desarrollo de la técnica de película delgada del microscopio electrónico para el estudio de defectos cristalinos y su aplicación a una amplia gama de problemas en la ciencia de materiales y la metalurgia».[1]

Véase también[editar]

Notas[editar]

  1. "for his distinguished contributions to the development of the electron microscope thin film technique for the study of crystal defects and its application to a very wide range of problems in materials science and metallurgy". «Oxford Materials — Professor Sir Peter Hirsch». University of Oxford. Consultado el 6 de febrero de 2009.

Referencias[editar]