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Nanómetros de ancho, haciendo que la investigación de la electromigración sea muy importante. Datos: Q1319010 Multimedia: Electromigration / Q1319010…2 kB (272 palabras) - 22:06 29 jun 2023- «Semiconductor Electromigration In-Depth». Answers.com. Consultado el 14 de noviembre de 2006. Black, J.R. (1969). «Electromigration - A Brief Survey…2 kB (224 palabras) - 23:02 17 ene 2024
- the low mobility, inherent to the material system.» «Electromigration : What is electromigration?». Middle East Technical University. Consultado el 31…3 kB (415 palabras) - 22:46 29 may 2024
- {E}}} : J = − D ∇ c ⏟ Diffusion + c v ⏟ Advection + D z e k B T c E ⏟ Electromigration {\displaystyle {\bf {J}}=-\underbrace {D\nabla c} _{\text{Diffusion}}+\underbrace…6 kB (704 palabras) - 16:17 30 abr 2024
- Cleveland-Cliffs fabricaba acero eléctrico de grano orientado.[4][5] "Note on electromigration of grain boundaries in silicon iron", Journal of Materials Science…8 kB (1109 palabras) - 16:55 15 abr 2024
- «Control of Tunnel Resistance of Nanogaps by Field-Emission-Induced Electromigration». Jap. J. Appl. Phys. 46 (36–40): L907-909. doi:10.1143/JJAP.46.L907…8 kB (959 palabras) - 09:16 3 feb 2024
2015, doi 10.1016/j.physrep.2015.05.002. H. Ceric, S. Selberherr. Electromigration in Submicron Interconnect Features of Integrated Circuits., Materials…8 kB (1044 palabras) - 16:09 18 feb 2024
Ansorge M (2016). «Affinity capillary electrophoresis: the theory of electromigration». Analytical and Bioanalytical Chemistry 408 (30): 8623-8641. PMID 27558099…21 kB (2387 palabras) - 06:06 9 abr 2024- E. K.; Baisden, T. A.; Näsäkkälä, Elina; Wahlberg, Olof (1981). «Electromigration Method in Tracer Studies of Complex Chemistry. II. Hydrated Radii and…23 kB (2579 palabras) - 07:28 4 abr 2024
doi:10.1126/science.1228061. «Mitigating Electromigration in Physical Design». Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design (en inglés)…103 kB (13 028 palabras) - 15:25 7 may 2024
Lienig, M. Thiele (2018). «Mitigating Electromigration in Physical Design». Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Springer…113 kB (13 981 palabras) - 16:33 16 may 2024
