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- properties of semiconductors by Richard H Bube (1992)[3] Photovoltaic materials (1998), ISBN 1-86094-065-X Photoinduced defects in semiconductors co-authored…4 kB (427 palabras) - 16:50 4 ene 2024
- Mishra, Umesh and Singh, Jasprit, Chapter 1: Structural Properties of Semiconductors. In: Semiconductor Device Physics and Design, 2008, Pages 1-27, doi 10…3 kB (418 palabras) - 01:50 23 oct 2023
- OCLC 32666271. Langouche, G. (1992). Hyperfine interaction of defects in semiconductors. Elsevier. ISBN 0-444-89134-X. OCLC 25549870. Schäfer, Rolf;…4 kB (384 palabras) - 20:01 30 may 2024
- Chelikowsky JR 1988, Electronic Structure and Optical Properties of Semiconductors, Springer Verlag, Berlin, ISBN 3-540-18818-5 Coles BR & Caplin AD 1976…120 kB (13 462 palabras) - 08:26 23 abr 2024
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- Ichimura, M. (1996). «Stillinger-Weber potentials for III–V compound semiconductors and their application to the critical thickness calculation for InAs/GaAs»…51 kB (6629 palabras) - 18:31 4 may 2024
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