Espectroscopia de rayos X

De Wikipedia, la enciclopedia libre
Saltar a: navegación, búsqueda
Cada punto (reflexión) en este patrón de difracción se forma por la interferencia de la dispersión de rayos X pasando por un cristal. Los datos obtenidos pueden utilizarse para determinar la estructura cristalina.

La espectroscopia de rayos X es un nombre genérico que abarca todas aquellas técnicas espectroscópicas utilizadas para determinar la estructura electrónica de los materiales mediante excitación por rayos X. La espectroscopia de rayos X tiene una amplia gama de aplicaciones, en especial en la determinación de estructuras cristalinas y muestras sólidas.

Los rayos X son un tipo de radiación electromagnética con una energía muy superior a la radiación ultravioleta que permite su absorción por los electrones de core. Los rayos X son especialmente capaces de penetrar estructuras cristalinas: su longitud de onda, de un orden de magnitud igual al de las distancias interatómicas.

Técnicas espectroscópicas de rayos X[editar]

La absorción, emisión, fluorescencia y dispersión de los rayos X se utilizan en muchas técnicas espectroscópicas que nos aportan información sobre la estructura y la composición de la materia:

  1. La fluorescencia de rayos X nos aporta información sobre la superficie de la muestra.
  2. Emisión electrónica Auger.

Véase también[editar]

Enlaces externos[editar]