Espectroscopia de rayos X

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Cada punto (reflexión) en este patrón de difracción se forma por la interferencia de la dispersión de rayos X pasando por un cristal. Los datos obtenidos pueden utilizarse para determinar la estructura cristalina.

La espectroscopia de rayos X es un nombre genérico que abarca todas aquellas técnicas espectroscópicas utilizadas para determinar la estructura electrónica de los materiales mediante excitación por rayos X. La espectroscopia de rayos X tiene una amplia gama de aplicaciones, en especial en la determinación de estructuras cristalinas y muestras sólidas.

Los rayos X son un tipo de radiación electromagnética con una energía muy superior a la radiación ultravioleta que permite su absorción por los electrones de core. Los rayos X son especialmente capaces de penetrar estructuras cristalinas: su longitud de onda, de un orden de magnitud igual al de las distancias interatómicas, hace que se difracten, produciendo los patrones de difracción del cristal.

[editar] Técnicas espectroscópicas de rayos X

La absorción, difracción, emisión, fluorescencia y dispersión de los rayos X se utilizan en muchas técnicas espectroscópicas que nos aportan información sobre la estructura y la composición de la materia:

  1. La difracción de rayos X en materiales cristalinos se utiliza para obtener su estructura cristalina.
  2. La fluorescencia de rayos X nos aporta información sobre la superficie de la muestra.
  3. Emisión electrónica Auger.

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