14 nanómetros

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Procesos de
fabricación de
semiconductores

14 nanómetros (14nm) es la tecnología de fabricación de semiconductores, en la que los componentes están fabricados en una 14 milmillonésima parte de un metro.[1][2][3]

Visión general[editar]

Actualmente, su uso está planificado para ser destinado sobre todo, a la fabricación microprocesadores CMOS, siguiendo de acuerdo al ITRS (en inglés International Technology Roadmap for Semiconductors).

Proyección del escalado CMOS de acuerdo al International Technology Roadmap for Semiconductors (ITRS).

Microprocesadores[editar]

Familia Intel[editar]

Familia AMD[editar]

Nvidia[editar]

  • Nvidia Geforce 10 series (GT 1030, GTX 1050, GTX 1050Ti)

BXZ4, es el microprocesador, de última generación que sea construido en la actualidad con la tecnología más simple, pero eficaz su creador Dr. Glen González, un costarricense que ha realizado lo que muchos creían imposible

Historia[editar]

  • En el año 2005, Toshiba demuestra una longitud de puerta de 15 a 10 nm, usando un proceso espaciador lateral.[5]

Predecesor[editar]

22 nanómetros (22nm) era la anterior tecnología de fabricación de semiconductores.

Sucesor[editar]

10 nanómetros (10nm) será la tecnología que sustituya a los 14nm como la tecnología de fabricación de semiconductores.

Enlaces externos[editar]

Referencias[editar]

  1. Prefijos del Sistema Internacional
  2. «Intel 14 nm para extender la Ley de Moore otra década». http://www.muycanal.com. 
  3. «Los 14 nanómetros empiezan a verse en el horizonte». http://www.xataka.com/. 
  4. «Intel Atom Z2580, primer chip de 14 nanómetros». http://www.muycomputer.com. 
  5. A, Kaneko; A, Yagashita; K, Yahashi; T, Kubota; M, Omura; K, Matsuo; I, Mizushima; K, Okano; H, Kawasaki; S, Inaba; T, Izumida; T, Kanemura; N, Aoki; K, Ishimaru; H, Ishiuchi; K, Suguro; K, Eguchi; Y, Tsunashima (2005), Sidewall transfer process and selective gate sidewall spacer formation technology for sub-15nm finfet with elevated source/drain extension (PDF) (en inglés), pp. 844-847, ISBN 0-7803-9268-X, doi:10.1109/IEDM.2005.1609488 .