Microscopio de sonda de barrido

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Un microscopio de sonda de barrido (también llamado SPM por sus siglas en inglés Scanning Probe Microscopy) es aquel que tiene el transmisor en la parte exequimal del lente (Objetivo 4x). Este microscopio electrónico utiliza una sonda que recorre la superficie del objeto a estudiar. La rama de microscopios SPM se fundó con la invención del microscopio de efecto túnel en 1981.

Su uso en investigaciones científicas es el de regular la imagen mediante un barrido de electrones haciendo que la imagen aumente (10.000.000 nm).

Tipos de SPM[editar]

Hay gran variedad de microscopios de sonda de barrido, siendo los principales:

De estas técnicas, AFM y STM son los más comúnmente utilizados para las mediciones de rugosidad.

Véase también[editar]

Notas[editar]

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