Archivo:Thickness Measurement.png
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Resumen
| Descripción |
English: The transmitted THz pulse in reflection mode experiment setup are received by the detector with different time delays; X-ray image of the IC from the side and relating the detected peaks in THz to the different layers detected by X-ray is shown as well. |
| Fecha | |
| Fuente | Trabajo propio |
| Autor | KiarashKevin86 |
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| Fecha y hora | Miniatura | Dimensiones | Usuario | Comentario | |
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| actual | 11:13 30 jun 2015 | | 1232 × 506 (233 kB) | KiarashKevin86 | User created page with UploadWizard |
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